日照 高温高湿高压试验箱 现货厂家

高压加速老化试验箱内外箱均采用304不锈钢板，圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业容器标准，可防止试验中结露滴水设计。圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。Jing密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。自动门禁，圆型门自动温度与压力检知An全门禁锁定控制，门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
试验箱执行与满足标准：
1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件；
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验；
3.MIL-STD810D方法502.2；
4.GJB150.9-8温湿试验；
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验；

试验箱使用条件：
温度：5℃～+28℃（内平均温度≤28℃）
相对湿度：≤85%RH
气压：86kPa～106kPa
供电条件 三相四线+保护地线，电压范围：AC（380±38）V
频率允许波动范围：（50±0.5）Hz
保护地线接地电阻小于4Ω

试验箱性能：
1.温度范围:100℃~135℃可设定.
2.湿度范围:RH.(饱和蒸气湿度) 
3.压力范围:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue对压力;(安全压力容量3Kg/cm2/G=1个环大气压+2Kg/cm2)
4.时间范围:0~1000H
5.温度分布:(+/-)2.0℃%（100℃）
6.升温时间:RT~121℃约35分钟内
7.加压时间:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2约35分钟内

技术性能指标：
1、温度范围：＋110℃～＋132℃。
2、温度波动度：±0、5℃。
3、温度均匀度：±1、5℃。
4、湿度范围：R、H饱和蒸气。
5、湿度波动度：±1、5%R、H。
6、湿度均匀度：±3、0%R、H。
7、压力范围：
相对压力：+0～2kg/cm2。（注：可生产压力范围：+0～3kg/cm2）。
Jue对压力：1、0kg/cm2～3、0kg/cm2。
安全压力容量：4kg/cm2＝1个环境大气压＋3kg/cm2。
8、循环方式：水蒸气自然对流循环。
9、测时间设置：0～999Hr。
10、加压时间：0、00kg/cm2～2、00kg/cm2约30分钟。
12、升温时间：由常温升至＋132℃约30分钟非线性空载。
13、温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率。
14、试验内箱体积供选择：
注：
1、在无试验负荷、无层架情况下稳定30分钟后测定的性能。
2、关于温度上升及下降时间是指风冷式在周围环境温度为26℃±5℃,时所测量的性能。
3、温湿度传感器设置于空调箱出风口处。
4、温湿度均匀度定义为：实验室几何中心点处，温湿度时的所测之资料。
5、以上数据性能，测量，计算方法参照GB5170、2、GB5170、5的方法测定。
高压加速老化试验箱详细说明：
    随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT（HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC（国际电工会）所标准化。
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